mikroelektronika --- nanotechnologie

This dissertation thesis (Thesis) deals with the study of possibilities to evaluate reliability of circuits based on modern nanostructures. It also presents a new way of measurement of various internal parameters of microelectronic circuits based on modern nanotechnologies. This thesis presents a new solution and methodology of utilization of BRAM in FPGA and utilization of this modern part in dependable systems, enabling a new easy way of implementation, reliability assessment methodology and measurements in modern nanoscale microelectronics, computer systems and architectures gaining from the amazing world of programmable technologies.; Práce se zabývá studiem možností stanovení určitých spolehlivostních parametrů moderních obvodů a nanostruktur. v práci je prezentován nový způsob měření různých parametrů mikroelektronických obvodů moderních nanotechnologií. Zcela nové řešení a metodologie využívá BRAM bloků v programovatelných obvodech FPGA, jako běžnou součást moderních řešení použitých i v systémech se zvýšenou provozní spolehlivostí. Prezentované řešení je novou metodologií. Umožňuje nový jednoduchý způsob implementace, odhadu a stanovení spolehlivostních ukazatelů, včetně měření parametrů moderní mikro- a nanoelektroniky, počítačových systémů a architektur těžících z ohromujícího světa programovatelných technologií.

Reliability assessment and advanced measurements in modern nanoscale FPGAS