povrchové úpravy materiálů --- zkoušení materiálů

Podpovrchové poškození vznikající při opracování optických povrchů způsobuje nežádoucí vlastnosti limitující následné použití a proto je nutné jej vhodně zvoleným výrobním procesem minimalizovat, k čemuž je potřebná dostatečně detailní znalost o jeho míře, zejména pak o jeho hloubce. Cílem této bakalářské práce proto bylo vytvoření a odzkoušení postupu, který umožní účinně a jednoduše kvantifikovat míru podpovrchového poškození v křehkých materiálech používaných v optice bez subjektivního vlivu operátora a odlišit se tak od již existujících metod, které jsou na subjektivním hodnocení založeny. Navrhovaná metoda hodnocení míry podpovrchového poškození je založena na asymetrickém leštění broušené plochy vedoucím ke vzniku klínu s rostoucí penetrační hloubkou v závislosti na poloměru plochy a následné analýze povrchu pomocí Interferometrie v bílém světle poskytující informaci o struktuře povrchu, kdy pomocí vhodně zvoleného mikrostrukturního parametru (záporné odchylky Valley od střední hodnoty plošné mikrodrsnosti) je detekována hloubka zasažená podpovrchovým poškozením. To do budoucna představuje značný potenciál směrem k případné automatizaci celé analýzy.

Vývoj metody pro hodnocení podpovrchového poškození